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EDX測(cè)試儀 X射線熒光光譜EDX測(cè)試機(jī)器設(shè)備SDD X射線探測(cè)器具有驚人的計(jì)數(shù)率,達(dá)200000,比普通的Si-Pin X射線探測(cè)器獲取數(shù)據(jù)的能力10倍。 超大型SDD X射線探測(cè)器其探測(cè)能力比標(biāo)準(zhǔn)型探測(cè)器提25%,Mg;Al;Si;P等輕質(zhì)元素的分析能力提10%。
EDX分析儀器 X射線熒光光譜EDX分析機(jī)器設(shè)備百分比(%)顯示元素含量,元素顯示順序可按能量、濃度值、用戶自定義等方式排序,可統(tǒng)計(jì)多次測(cè)試的平均值,可接臺(tái)式電腦顯示;儀器在測(cè)試過程中同步動(dòng)態(tài)顯示化學(xué)成份。 顯示器無LCD原反應(yīng),室內(nèi)低光源與強(qiáng)光環(huán)境下也能有優(yōu)異可視性,能耗低。
EDX檢測(cè)儀器 X射線熒光光譜EDX檢測(cè)機(jī)器設(shè)備新的濾波輪更輕、更薄,在位置上更加接近被測(cè)樣品,具有8 個(gè)濾波器,可適應(yīng)的配置,不同的元素采用不同的濾波器,產(chǎn)生好的分析效果。
EDX檢測(cè)儀 X射線熒光光譜EDX金屬元素成分化學(xué)檢測(cè)儀器設(shè)備采用了新的校準(zhǔn)技術(shù),使儀器具有兩倍的計(jì)數(shù)率,從而具有更快的檢測(cè)速度和更好的性。 采用了*重新設(shè)計(jì)的射線管、無壓電源線、無 RF 噪音、更好的X射線屏蔽。
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