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簡要描述:電鍍檢測機器設(shè)備對可能影響整機度及穩(wěn)定性的核心器件,全部采用進口原廠器件。 模塊化設(shè)計與組件選擇,確保了整機性能的穩(wěn)定性與未來服務(wù)的操作簡便性。 特別設(shè)計的原級、二次濾光系統(tǒng),既保證了對有害元素的激發(fā)效率,同時全面降低了作為干擾因素的背景強度,充分提峰背比,大幅度降低檢出下限。
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電鍍檢測機器設(shè)備
我公司銷售產(chǎn)品包括X射線熒光光譜儀(含能量色散和波長色散型)(XRF)、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀(ICP)、電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(ICP-MS) 、原子熒光光譜儀(AFS)、原子吸收分光光度計(AAS)、光電直讀光譜儀(OES)、氣相色譜儀(GC)、氣相質(zhì)譜儀(GC-MS)、液相色譜儀(LC)、液相質(zhì)譜儀(LC-MS)、能譜儀(EDS)、高頻紅外碳硫分析儀(CS)、礦漿載流在線采樣儀(OSA)等。產(chǎn)品主要應(yīng)用領(lǐng)域有電子電器、五金塑膠、珠寶首飾(貴金屬及鍍層檢測等)、玩具安全(EN71-3等),F963中規(guī)定的有害物質(zhì):鉛Pb、砷As、銻Sb、鋇Ba、鎘Cd、鉻Cr、Hg、硒Se以及氯等鹵族元素、建材(水泥、玻璃、陶瓷等)、合金(銅合金、鋁合金、鎂合金等)、冶金(鋼鐵、稀土、鉬精礦、其它黑色及有色金屬等)、地質(zhì)采礦(各種礦石品位檢測設(shè)備)、塑料(無鹵測試等)、石油化工、高嶺土、煤炭、食品、空氣、水質(zhì)、土壤、環(huán)境保護、香精香料、紡織品、醫(yī)藥、商品檢驗、質(zhì)量檢驗、人體微量元素和化合物檢驗等等。銷售的儀器設(shè)備應(yīng)用于元素分析,化合物測試,電鍍鍍層厚度檢測等。
以下是X熒光光譜儀測試電鍍鍍層的儀器簡介:
鍍層檢測:
常見金屬鍍層有:
鍍層
基體 | Ni | Ni-P | Ti | Cu | Sn | Sn-Pb | Zn | Cr | Au | Zn-Ni | Ag | Pd | Rh |
Al | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
Cu | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | |
Zn | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | |
Fe | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
SUS | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
單層厚度范圍:
金鍍層0-8um,
鉻鍍層0-15um,
其余一般為0-30um以內(nèi),
可最小測量達0.001um。
多層厚度范圍:
Au/Ni/Cu : Au分析厚度:0-8um Ni分析厚度:0-30um
Sn/Ni/Cu: Sn分析厚度:0-30um Ni分析厚度:0-30um
Cr/Ni/Fe: Cr分析厚度0-15um Ni分析厚度:0-30um
鍍層層數(shù)為1-6層
鍍層精度相對差值一般<5%。
鍍層成分含量:Sn-Pb合金成分分析;Zn-Ni合金成分分析。
鍍層分析優(yōu)勢:分析PCB金手指最小尺寸可達0.2mm
單層分析精度,以Ni舉例:(相對差值)
Ni層厚度(um) | 精度 |
<1.0um | <5% |
1.0-5.0um | <3% |
5.0-10um | <3% |
10-20um | <3% |
>20.0um | <3% |
元素成分分析:
鍍液分析,目前常見鍍液元素分析有:金、銀、錫、銅、鎳、鉻、鋅。
ROHS 和無鹵檢測,高性能SDD探測器可以精確檢測無鹵,實現(xiàn)鍍層與環(huán)保一機多用。
金屬成分分析,在檢測ROHS同時可檢測金屬中其他各元素成分含量。
檢測精度:
Cr,Cd,Hg,Cu, Zn, Fe, Ni, Pb, Mn, W, Au, Ag, Sn等重金屬
檢測限達1ppm。
對這些金屬測試分析穩(wěn)定的讀取允許差值本儀器已達到下列標準:
A. 檢測含量大于5%的元素穩(wěn)定的測試讀取相對差值小于1%
B. 檢測含量在0.5~5%的元素穩(wěn)定的測試讀取相對差值小于2%
C. 檢測含量在0.1~0.5%的元素穩(wěn)定的測試讀取相對差值小于5%
D. 檢測含量低于0.1%的元素測試讀取相對差值變化率小于10%
測量精度:
1)精度(單層):
測厚儀的檢測精度表
Ni層厚度(um) | 保證精度 |
<1.0um | <5% |
1.0-5.0um | <3% |
5.0-10um | <3% |
10-20um | <3% |
>20.0um | <3% |
測試方法: 在相同的操作條件下,對同一標準樣板進行5次檢測,檢測到的平均數(shù)據(jù)與標樣板的實際數(shù)據(jù)作比較。檢測精度為檢測平均值與標準樣片實際值之差(平均誤差)
2)兩層及以上:
兩層及以上的首層精度符合單層的測試結(jié)果,但是第二層以上比較復(fù)雜,要根據(jù)上面一層的厚度來決定。在第一層厚度小于2um時,一層和二層的測試精度基本符合單層的精度,參照如下的測試報告,第一層金標樣厚度0.101um,第二層鎳的標樣厚度為4.52um。
在第一層厚度在2~5um時會大大降低第二層的和第三層的測試精度,第二層的誤差率會在5~10%,第三層的誤差率小于15%。
重復(fù)性:
保證重復(fù)性值:≤±5%
重復(fù)性的檢測應(yīng)在儀器校準后: 在相同的操作條件下,使用相同的檢測樣板做連續(xù)重復(fù)檢測,連續(xù)測量必須在同一檢測點位置使用一同樣片間隔60秒,測量一共進行10次,每次測量值與10次平均值進行對比。
重復(fù)性=平均誤差÷平均值×100 %.
報告打?。?/span>
可以PDF,Excel格式輸出報告,歷史數(shù)據(jù)查詢方便
安全使用,維護與保養(yǎng)
由于儀器非常精密,未經(jīng)允許情況請不要打開儀器外殼,不要對X射線源和探測器進行改變,由用戶自身原因造成儀器損壞本公司將不負責(zé)任。
儀器安裝一定要平穩(wěn),儀器后面離墻距離不得小于30厘米,必須使用標準的220V交流電,電壓不穩(wěn)情況要配備穩(wěn)壓電源,插座必須接地良好,由用戶電源不合乎要求造成損失由用戶負責(zé)。
請不要用濕的手觸摸電源部分,帶水的手也不要碰儀器外殼以免發(fā)生觸電。
進行測量時,因為高電壓流至X射線源,儀器運行時,不要嘗試打開或觸摸蓋子。由于高電壓源必須通過自動運行或者遵循用戶指南中止。
儀器環(huán)境要求:儀器使用環(huán)境需清潔,溫度適宜15℃~30℃,濕度≤80%,電源:AC: 220V ±5V。
以上細節(jié)均有可能造成無法預(yù)測后果,買方應(yīng)予以基本遵守。
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