簡要描述:能量色散X射線熒光光譜儀原理:基于X射線的能量吸收和發(fā)射過程。當X射線照射到樣品表面時,被測試樣品中的原子吸收部分X射線能量并躍遷到一個激發(fā)態(tài),然后再釋放出特征X射線(二次X射線)。每個元素都特 的電子能級結構,因此不同元素的熒光峰位和峰強度也不同。通過檢測熒光的能量變化和強度分布,能夠確定樣品中所含的各種元素及其含量。
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能量色散X射線熒光光譜儀
能譜X射線熒光光譜儀(EDXRF)是一種利用X射線熒光(XRF)進行材料分析的儀器。它通過測量材料表面被X射線激發(fā)后釋放出的特征X射線的能量和強度,來分析材料的化學成分。
它的特點包括:
1. 設備相對簡單,可以在大氣中工作,靈敏度高。
2. 可以對多種元素進行分析,包括輕元素和重元素。
3. 分析速度快,可以在短時間內對多個樣品進行測量。
4. 是一種無損檢測方法,不會對樣品造成損傷。
在材料科學、化學、生物學和環(huán)境科學等領域,它被廣泛應用于元素分析和化學分析,例如合金成分分析、地質樣品分析、土壤和沉積物分析等。
下面介紹手持式X熒光光譜儀
X射線熒光光譜分析儀:
X射線熒光光譜分析儀 應對有害元素檢測、油品分析、礦石分析、合金分析、電鍍鍍層、環(huán)境等各種元素分析的產品,目前正服務于各個行業(yè)。
儀器性能:
檢測精度高。
高的穩(wěn)定性,高的重復性。
優(yōu)異的線性相關性。
銠元素陽級本身就提高了2倍檢測鎂元素的結果。
大型SDD硅漂移探測器的使用將從鎂到硫元素的檢測下限/精度提高了四倍。
大型SDD硅漂移探測器,提高了五倍銀元素的檢測下限,兩倍鎘元素的檢測下限
采用了重新設計的射線管、無高壓電源線、無 RF 噪音、更好的X射線屏蔽。
結構更精密,縮短了射線管、探測器與被測樣品之間的距離,對于某些應用信號提高了~40%.
新的濾波輪更輕、更薄,在位置上更加接近被測樣品,具有8 個濾波器,可適應高的配置,不同的元素采用不同的濾波器,產生好的分析效果。
超過1/3的機體采用鋁合金外殼設計,儀器頂部有專用的槽式散熱裝置,整個體系使散熱非常有效,延長機器壽命, X射線分析儀工作更加更穩(wěn)定,從而故障率極低。
SDD X射線探測器具有驚人的計數率,高達200000,比普通的Si-Pin X射線探測器獲取數據的能力高10倍,進一步提高了Mg;Al;Si;P;S等輕質元素性能。
內置的氣壓計可以糾正氣壓,氣壓計壓力感應, 可根據不同的壓力調整,從而是檢測值更加準確,儀器預設海平面,客戶在不同的海拔高度測試,無需再次校準。
內置的加速器可探測運動和震動,使儀器不用時待機,拿起時工作。
真空系統(tǒng)(選配):真空系統(tǒng)可提高Mg;Al;Si;P;S等輕質元素的檢測下限。
智能接駁座可對額外電池充電、儀器內置電池同時充電并顯示充電進度,接駁座能連接電腦交換數據,可讓儀器即時標準化,儀器隨時待命狀態(tài)。
儀器即使在開機狀態(tài)下也可更換電池而并不需要關機,在系統(tǒng)運作中拔掉電池,有超過30秒的時間可以插入一個新電池。
儀器開機并不需要標準化,可以直接測試,標準化僅僅是可選項。
儀器外殼采用鋁合金、塑膠設計,堅固耐用,手柄軟膠設計,手感好,更適合長時間使用。
儀器具有很好的平衡性,在測試時能立于工作臺上,不需要用手扶持,一鍵式按鈕設計,即使長時間操作也無疲勞感。
工業(yè)級可觸摸的顯示屏與主機一體化密封設計,可承受野外惡劣的工作環(huán)境。密封的儀器可在雨天、塵土飛揚的礦山環(huán)境中長時間正常工作。
儀器元素分析范圍:
可分析從從12號元素Mg到94號元素PU之間的所有合金。
儀器的分析模式與元素種類 | |
分析模式 | 分析元素 |
元素分析范圍 | 從22號元素鈦到94號元素PU范圍內的31種基本元素,在以上范圍內,可以根據客戶需要更換其他元素。 |
Alloy Beam1模式 | Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, W, Hf, Ta, Re, Pb, Bi, Zr, Nb, Mo, Ag, Sn, Sb等21元素。 |
Alloy Beam2模式 | Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, W, Hf, Ta, Re, Pb, Bi, Zr, Nb, Mo, Ag, Sn, Sb PLUS Mg, Al, Si, P等25元素 |
儀器用途及應用:
用于現(xiàn)場,無損,快速,準確分析檢測合金元素和合*牌號的識別。
合金材料鑒別(PMI)
來料檢驗;庫存材料管理;安裝材料復檢
金屬廢料回收
廢舊金屬的回收、再利用需要分析儀,確保對大量繁雜多樣的合金種類及材料品質,進行現(xiàn)場快速準確的分析檢測。為購銷雙方在原材料交易時作出迅速、可靠的判定,并提供必要的信息。
質量保證與質量控制(QA/QC)
儀器技術規(guī)格:
項目 | 分析儀器 |
環(huán)境要求 | 環(huán)境濕度0~95%;環(huán)境工作溫度-20℃ ~50℃;橙黃、黑色、銀白色相間 |
激發(fā)源 | 大功率微型直板電子X射線管,內置15kV~35kV多段可選擇的電壓;無高壓電纜、無射頻噪聲、更好的X射線屏蔽、更好的散熱。 |
射線管靶材 | Rh、Au靶 |
X射線探測器 | 超大型SDD硅漂移探測器 |
冷卻系統(tǒng) | 采用了Peltier恒溫冷卻系統(tǒng),控測器在-35℃下工作,保證儀器的檢測精度,和不受外界溫度的影響 |
濾波器 | 八個濾光片可自動切換 |
電壓、電流 | 電壓15~35kv,電流200ua |
光譜束 | 兩個光束段,不同的元素采用不同的電壓與電流,產生分析效果 |
主機供電系統(tǒng) | 2個鋰電池,110v/220通用充電器, 充電器適配器,智能接駁座 |
智能接駁座 | 可對額外電池充電、儀器內置電池同時充電并顯示充電進度,接駁座能連接電腦交換數據,可讓儀器即時標準化,儀器隨時待命狀態(tài) |
開機換電 | 儀器即使在開機狀態(tài)下也可更換電池而并不需要關機,時間可達30秒 |
標準化 | 儀器開機并不需要標準化,可以直接測試,標準化僅僅是可選項 |
平衡性 | 儀器具有很好的平衡性,在測試時能立于工作臺上,無需手扶,一鍵式按鈕設計,即使長時間操作也無疲勞感 |
散熱性 | 超過1/3的機體采用鋁合金外殼設計,儀器頂部有專用的槽式散熱裝置,整個體系使散熱非常有效,延長機器壽命, X射線分析儀工作更加更穩(wěn)定,從而故障率極低 |
顯示器 | 整機一體化設計,工業(yè)級高分辨率TFT QVGA卡西歐 BlanView® 觸摸顯示彩屏,帶LED背光;像素240×320 |
顯示器固定方式 | 一體機設計,整機連體構造,PDA不可拆卸,可防塵,防霧,防水,故障低 |
顯示器可視性 | 顯示器無LCD高原反應,室內低光源與強光環(huán)境下也能有優(yōu)異可視性,能耗低,比傳統(tǒng)低一半白光顯示增加各種環(huán)境的顯示性 |
數據顯示 | 百分比(%)顯示元素含量,元素顯示順序可按能量、濃度值、用戶自定義等方式排序,可統(tǒng)計多次測試的平均值,可接臺式電腦顯示;儀器在測試過程中同步動態(tài)顯示化學成份 |
數據存儲 | ROM128M、RAM128M、2G SD卡,可存儲205000組數據與光譜 |
數據傳輸 | USB電纜、無線藍牙進行數據傳輸,文件可采用TXT,EXCEL格式輸出。 |
處理器CPU | 532MHz CPU 、Freescal,ARM1136-MX31處理器,浮點運算方式,速度大幅提高 |
系統(tǒng)CPU外設 | 采用USB總線, I2C,GPIO, 藍牙, 加速器,實時的時鐘芯片,微型SD 存儲卡 (可存儲2GB 數據),GPIO 條帶連接到扳機和PSM |
操作系統(tǒng) | 用戶化 windows CE 6.0系統(tǒng) |
Alloy Beam1模式 | Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, W, Hf, Ta, Re, Pb, Bi, Zr, Nb, Mo, Ag, Sn, Sb等21元素 |
Alloy Beam2模式 | Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, W, Hf, Ta, Re, Pb, Bi, Zr, Nb, Mo, Ag, Sn, Sb PLUS Mg, Al, Si, P等25元素 |
合金建模方式 | 基本參數法,儀器在分析合金前不需要預先知道合金種類,實現(xiàn)全自動分析 |
合金種類 | 鐵合金系列、鎳基合金系列、鈷基合金系列、鈦基合金系列、銅基系列、6. 高溫合金、鉬鎢合金、鋁合金、混雜合金系列 |
合*牌號 | 內置合*牌號351種,用戶可自定義300種合*牌號,能同時分析的合金651種,能分析的合金高達萬種, |
小樣品測試 | 不規(guī)則或小型樣品的補償性測試方法能檢測很小或很少的樣品,如直徑為0.04mm的細絲也能立即辨認 |
鋁合金 | 能測試Mg, Al, Si, P等元素,能識別全系列的39種鋁合*牌號 |
能量色散X射線熒光光譜儀
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