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電鍍層膜厚測量儀

簡要描述:電鍍層膜厚測量儀
熒光X射線鍍層測厚儀:這類儀器采用熒光X射線原理,通過測量X射線照射到覆層表面后被吸收和散射的程度來測定覆層厚度。

  • 產(chǎn)品型號:
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時間:2024-11-08
  • 訪  問  量:878

詳細(xì)介紹

電鍍層膜厚測量儀


電鍍檢測儀是一種用于檢測和評估各種材料表面鍍層質(zhì)量的*設(shè)備。它可以通過對鍍層的物理和化學(xué)特性進(jìn)行分析,實(shí)時監(jiān)測和測量鍍層的厚度、附著力、均勻性以及其他相關(guān)參數(shù),以確保鍍層的質(zhì)量和持久性。

在電鍍行業(yè)中,電鍍檢測儀的應(yīng)用非常廣泛。它可以幫助制造商及時發(fā)現(xiàn)并解決可能存在的鍍層問題,如鍍層厚度不均勻、附著力不足等,以確保產(chǎn)品質(zhì)量和性能。此外,電鍍檢測儀在航空航天、建筑和家居裝飾等領(lǐng)域也有廣泛的應(yīng)用。

電鍍檢測儀的工作原理是利用光學(xué)、電子和化學(xué)等原理,結(jié)合*的傳感技術(shù)和數(shù)據(jù)分析算法。它可以通過不同的探測技術(shù),如X射線、紅外線、激光等,對鍍層的厚度和組成進(jìn)行非接觸式測量和分析。同時,它還可以通過檢測材料表面的反射率、折射率和電導(dǎo)率等參數(shù),評估鍍層質(zhì)量以及與基材的結(jié)合程度。

電鍍檢測儀具有高精度、高效率和無損檢測的特點(diǎn)。它可以實(shí)時監(jiān)測鍍層的質(zhì)量,并快速生成可視化的檢測報告。采用電鍍檢測儀可以減少人工檢測的錯誤和不確定性,提高工作效率和準(zhǔn)確性,節(jié)約成本和時間。同時,電鍍檢測儀還具有便攜性和易操作性,便于在不同地方和環(huán)境中使用。

總之,電鍍檢測儀是一種重要的設(shè)備,廣泛應(yīng)用于各個行業(yè)中。它能夠協(xié)助用戶及時發(fā)現(xiàn)和解決鍍層質(zhì)量問題,確保產(chǎn)品的質(zhì)量和性能。

X熒光電鍍檢測儀是一種用于檢測和測量各種材料表面鍍層質(zhì)量的無損檢測儀器。它利用X射線熒光光譜分析技術(shù),可以快速、準(zhǔn)確地測量鍍層的厚度、組成和性能。

X熒光電鍍檢測儀的技術(shù)參數(shù)包括:X射線激發(fā)源為50kV/1000μA-鎢靶X光管及高壓電源,探測器為SDD探測器,分辨率可達(dá)125±5eV,定位精度為0.001mm,測量時間為10s及以上,分析元素范圍為硫(S)~鈾(U),同時檢測元素多達(dá)24個,檢出限可達(dá)2ppm,分析含量一般為2ppm99.9%,鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)(每種材料有所不同)。

該儀器具有多種功能和特點(diǎn),包括良好的射線屏蔽作用、測試口高度敏感性傳感器保護(hù)、高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準(zhǔn)、采用高度定位激光、定位激光確定定位光斑等。它還配備了全景和局部兩個工業(yè)高清攝像頭,并采用了*的微孔準(zhǔn)直技術(shù),具有小孔徑達(dá)0.1mm、小光斑達(dá)0.1mm的能力。

X熒光電鍍檢測儀的樣品平臺移動范圍為120mm×120mm,樣品腔升降平臺移動高度為0150mm。它還配備了高精度移動平臺,可精確定位測試點(diǎn),重復(fù)定位精度小于0.005mm。

在實(shí)際使用中,X熒光電鍍檢測儀可以廣泛應(yīng)用于電子電器、高壓開關(guān)、電網(wǎng)、汽車配件五金工具、PCB板、半導(dǎo)體封裝、電子連接器等領(lǐng)域。它能夠快速、準(zhǔn)確地測量各種材料表面鍍層的厚度和組成,協(xié)助用戶及時發(fā)現(xiàn)和解決鍍層質(zhì)量問題,確保產(chǎn)品的質(zhì)量和性能。同時,該儀器還具有高精度、高效率和無損檢測的特點(diǎn),可以節(jié)約成本和時間,提高工作效率和準(zhǔn)確性。

技術(shù)要求:

1、鍍層檢測以下所有精度或穩(wěn)定性都以測試標(biāo)樣為準(zhǔn))

1.1、常見金屬鍍層有:

鍍層

基體

Ni

Ni-P

Ti

Cu

Sn

Sn-Pb

Zn

Cr

Au

Zn-Ni

Ag

Pd

Rh

Al

Cu


Zn


Fe

SUS

 1.2、單層厚度范圍:

金鍍層0-8um,

鉻鍍層0-15um,

其余一般為0-30um以內(nèi),

可最小測量達(dá)0.001um。

1.3、多層厚度范圍(一般測試45微米左右的厚度,樣品不同測試厚度不同)

Au/Ni/Cu : Au分析厚度:0-8um      Ni分析厚度:0-30um

Sn/Ni/Cu: Sn分析厚度:0-30um      Ni分析厚度:0-30um

Cr/Ni/Fe: Cr分析厚度0-15um       Ni分析厚度:0-30um

1.4、鍍層層數(shù)為1-6層

1.5、鍍層精度相對差值一般<5%。

1.6、鍍層分析優(yōu)勢:分析PCB金手指最小尺寸可達(dá)0.2mm

Ni層厚度(um)

精度

<1.0um

<5%

1.0-5.0um

<3%

5.0-10um

<3%

10-20um

<3%

>20.0um

<3%

單層分析精度,以Ni標(biāo)樣舉例:(相對差值)(以測試標(biāo)樣為準(zhǔn))

電鍍層膜厚測量儀

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