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簡要描述:電鍍鍍層X光譜分析儀器本儀器產(chǎn)品特點(diǎn):采用了Si-Pin探測器,性能穩(wěn)定,重復(fù)性和重現(xiàn)性好。在客戶遠(yuǎn)端請求下,我司技術(shù)人員可以遠(yuǎn)程協(xié)助用戶解決常見操作問題(需連接因特網(wǎng))。可進(jìn)行多達(dá)5層的多鍍層檢測。
詳細(xì)介紹
電鍍鍍層X光譜分析儀器
鍍層檢測:
2.1、常見金屬鍍層有:
鍍層
基體 | Ni | Ni-P | Ti | Cu | Sn | Sn-Pb | Zn | Cr | Au | Zn-Ni | Ag | Pd | Rh |
Al | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
Cu | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | |
Zn | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | |
Fe | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
SUS | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
2.2、單層厚度范圍:
金鍍層0-8um,
鉻鍍層0-15um,
其余一般為0-30um以內(nèi),
可小測量達(dá)0.001um。
2.3、多層厚度范圍
Au/Ni/Cu : Au分析厚度:0-8um Ni分析厚度:0-30um
Sn/Ni/Cu: Sn分析厚度:0-30um Ni分析厚度:0-30um
Cr/Ni/Fe: Cr分析厚度0-15um Ni分析厚度:0-30um
2.4、鍍層層數(shù)為1-6層
2.5、鍍層精度相對(duì)差值一般<5%。
2.6、鍍層成分含量:Sn-Pb合金成分分析;Zn-Ni合金成分分析。
單層分析精度,以Ni舉例:(相對(duì)差值)
Ni層厚度(um) | 保證精度 |
<1.0um | <5% |
1.0-5.0um | <3% |
5.0-10um | <3% |
10-20um | <3% |
>20.0um | <3% |
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安全使用,維護(hù)與保養(yǎng)
6.1、由于儀器非常精密,未經(jīng)允許情況請不要打開儀器外殼,不要對(duì)X射線源和探測器進(jìn)行改變,由于用戶自身原因造成儀器損壞本公司將不負(fù)責(zé)任。
6.2、儀器安裝一定要平穩(wěn),儀器后面離墻距離不得小于30厘米,必須使用標(biāo)準(zhǔn)的220V交流電,電壓不穩(wěn)情況要配備穩(wěn)壓電源,插座必須接地良好,由用戶電源不合乎要求造成損失由用戶負(fù)責(zé)。
6.3、請不要用濕的手觸摸電源部分,帶水的手也不要碰儀器外殼以免發(fā)生觸電。
6.4、進(jìn)行測量時(shí),因?yàn)楦唠妷毫髦罼射線源,儀器運(yùn)行時(shí),不要嘗試打開或觸摸蓋子。由于高電壓源必須通過自動(dòng)運(yùn)行或者遵循用戶指南中止。
6.5、儀器環(huán)境要求:儀器使用環(huán)境需清潔,溫度適宜15℃-30℃,濕度小于80%,電源:AC: 220V ±5V。
以上細(xì)節(jié)均有可能造成無法預(yù)測后果,買方應(yīng)予以基本遵守。
驗(yàn)收和保證值
儀器的性能指標(biāo)所引用的術(shù)語及定義都是根據(jù)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn), 所有誤差大都被表示成測量厚度的百分比或者絕對(duì)差值. 除特別說明外,所有數(shù)據(jù)指標(biāo)都在西格瑪?shù)目尚艩顟B(tài)下。
性能測試所用的標(biāo)樣片都是國際標(biāo)準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)樣品,在相同的測試點(diǎn)進(jìn)行測試.這些樣本必須受到保護(hù),以免機(jī)械或化學(xué)的改變,這些將影響到X射線的測量。
性能測試要求環(huán)境溫度范圍在 15℃-30℃之間。
環(huán)境相對(duì)濕度 ≤80%
電 源:AC: 220V ±5V
性能主要測試精度和重復(fù)性;不能使測厚儀在測量過程中產(chǎn)生“晃動(dòng)"
4.1測量精度
1)精度(單層):
測厚儀的檢測精度表
Ni層厚度(um) | 保證精度 |
<1.0um | <5% |
1.0-5.0um | <3% |
5.0-10um | <3% |
10-20um | <3% |
>20.0um | <3% |
測試方法: 在相同的操作條件下,對(duì)同一標(biāo)準(zhǔn)樣板進(jìn)行5次檢測,檢測到的平均數(shù)據(jù)與標(biāo)樣板的實(shí)際數(shù)據(jù)作比較。檢測精度為檢測平均值與標(biāo)準(zhǔn)樣片實(shí)際值之差(平均誤差)
2)兩層及以上:
兩層及以上的首層精度符合單層的測試結(jié)果,但是第二層以上比較復(fù)雜,要根據(jù)上面一層的厚度來決定。在第一層厚度小于2um時(shí),一層和二層的測試精度基本符合單層的精度,參照如下的測試報(bào)告,第一層金標(biāo)樣厚度0.101um,第二層鎳的標(biāo)樣厚度為4.52um。
在第一層厚度在2~5um時(shí)會(huì)大大降低第二層的和第三層的測試精度,第二層的誤差率會(huì)在5~10%,第三層的誤差率小于15%。
4.2重復(fù)性
賣方保證重復(fù)性值:≤±5%
重復(fù)性的檢測應(yīng)在儀器校準(zhǔn)后: 在相同的操作條件下,使用相同的檢測樣板做連續(xù)重復(fù)檢測,連續(xù)測量必須在同一檢測點(diǎn)位置使用一同樣片間隔60秒,測量一共進(jìn)行10次,每次測量值與10次平均值進(jìn)行對(duì)比。
重復(fù)性=平均誤差÷平均值×100 %
制造及檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)
6.1 按買賣雙方協(xié)商技術(shù)文件。
6.2 賣方制造合同產(chǎn)品時(shí)所采用的標(biāo)準(zhǔn)、規(guī)范、使用的材料應(yīng)符合國家或國際通行的最新頒發(fā)的現(xiàn)行有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范。
6.3 賣方提供的相關(guān)《說明書》以及手冊規(guī)定的條款。
6.4 設(shè)備必須保證全新的出廠標(biāo)準(zhǔn)。
技術(shù)服務(wù)
賣方向買方派遣指導(dǎo)安裝、服務(wù)人員。合同簽定后,賣方應(yīng)負(fù)責(zé)本項(xiàng)目的項(xiàng)目經(jīng)理,負(fù)責(zé)協(xié)調(diào)賣方技術(shù)人員按雙方約定的時(shí)間去現(xiàn)場指導(dǎo)安裝、調(diào)試、技術(shù)交底、人員培訓(xùn)等。
質(zhì)保條款
8.1賣方所供設(shè)備自驗(yàn)收合格之日起,質(zhì)保期為一年。質(zhì)保期內(nèi)產(chǎn)品發(fā)生的質(zhì)量問題,賣方必須免費(fèi)提供維修和咨詢服務(wù),如電話無法解決的問題,賣方必須在接到買方的現(xiàn)場維修通知后48小時(shí)內(nèi)趕到產(chǎn)品安裝地點(diǎn)。
8.2 因賣方供應(yīng)的設(shè)備不符合技術(shù)協(xié)議中所規(guī)定的條款及產(chǎn)品質(zhì)量原因?qū)I方造成的損失的賣方應(yīng)承擔(dān)相關(guān)責(zé)任。
本儀器產(chǎn)品特點(diǎn):
采用了Si-Pin探測器,性能穩(wěn)定,重復(fù)性和重現(xiàn)性好。
在客戶遠(yuǎn)端請求下,我司技術(shù)人員可以遠(yuǎn)程協(xié)助用戶解決常見操作問題(需連接因特網(wǎng))。
可進(jìn)行多達(dá)5層的多鍍層檢測。
無需象采用了正比計(jì)數(shù)器(PC比例器)的儀器那樣,需要標(biāo)準(zhǔn)樣頻繁較準(zhǔn)。
全自動(dòng)操作平臺(tái),可以連續(xù)多點(diǎn)檢測,省時(shí)省力。
操作簡單,界面友好,數(shù)據(jù)直觀顯示。
雙重聯(lián)動(dòng)屏蔽裝置,做到了X射線零輻射,讓使用者更安全。
電鍍鍍層X光譜分析儀器
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