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金屬含量測試儀器

簡要描述:金屬含量測試儀器
測試金屬含量儀器超的穩(wěn)定性,超的重復(fù)性,可測試Mg;Al;Si;P;S等輕質(zhì)元素。
X射線光譜金屬含量測試儀已經(jīng)被廣泛應(yīng)用于地質(zhì)、采礦、金屬元素(合金材料、鋼鐵成分)、土壤、環(huán)境、考古、木材、電子、醫(yī)藥、環(huán)保等等

  • 產(chǎn)品型號:
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時間:2024-11-06
  • 訪  問  量:2593

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Product classification
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詳細介紹


我公司銷售產(chǎn)品包括X射線熒光光譜儀(含能量色散和波長色散型)(XRF)、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀(ICP)、原子熒光光譜儀(AFS)、原子吸收分光光度計(AAS)、光電直讀光譜儀(OES)、氣相色譜儀(GC)、液相色譜儀(LC)、能譜儀(EDS)、頻紅外碳硫分析儀(CS Analyzer)、礦漿載流在線采樣儀(OSA)等。產(chǎn)品主要應(yīng)用領(lǐng)域有電子電器、五金塑膠、珠寶首飾(貴金屬及鍍層檢測等)、玩具安全(EN71-3等),F963中規(guī)定的有害物質(zhì):鉛Pb、砷As、銻Sb、鋇Ba、鎘Cd、鉻Cr、Hg、硒Se以及氯等鹵族元素、建材(水泥、玻璃、陶瓷等)、合金(銅合金、鋁合金、鎂合金等)、冶金(鋼鐵、稀土、鉬精礦、其它黑色及有色金屬等)、地質(zhì)采礦(各種礦石品位檢測設(shè)備)、塑料(無鹵測試等)、石油化工、嶺土、煤炭、食品、空氣、水質(zhì)、土壤、、商品檢驗、質(zhì)量檢驗、人體微量元素檢驗等等。總之銷售的儀器設(shè)備應(yīng)用于元素分析,化合物測試,電鍍鍍層厚度檢測。

檢測鋼鐵元素成分含量(含各種合金,不銹鋼等),簡單方便的X熒光光譜儀,精度穩(wěn)定性更好的是實驗室使用的專業(yè)測試鋼材成分設(shè)備的是OES光電直讀光譜儀,介紹如下:

金屬含量測試儀器

儀器介紹:

   手持式儀器資料:

X射線熒光光譜分析儀已經(jīng)被廣泛應(yīng)用于地質(zhì)、采礦、金屬、土壤、環(huán)境、考古、木材、電子、醫(yī)藥、環(huán)保、啤酒、電力、石化、玩具、大型工程。X射線熒光光譜分析儀,有效檢的應(yīng)對有害元素檢測、合金分析、礦石分析、環(huán)境分析的產(chǎn)品,目前正服務(wù)于伊朗核查和歐美各大海關(guān)等重要部門。

合金分析儀*性能

. 超的檢測精度度。

. 超的穩(wěn)定性,超的重復(fù)性。

. 優(yōu)異的線性相關(guān)性。

. 超過1/3的機體采用鋁合金外殼設(shè)計,儀器頂部有的槽式散熱裝置,整個體系使散熱非常有效,延長機器壽命, X射線分析儀工作更加更穩(wěn)定,從而故障率極低。

. SDD X射線探測器具有驚人的計數(shù)率,達200000,比普通的Si-Pin X射線探測器獲取數(shù)據(jù)的能力10倍。

. 可測試Mg;Al;Si;P;S等輕質(zhì)元素。

. 內(nèi)置的氣壓計可以糾正氣壓,氣壓計壓力感應(yīng), 可根據(jù)不同的壓力調(diào)整,從而是檢測值更加準確,儀器預(yù)設(shè)海平面,客戶在不同的海拔度測試,無需再次校準。

. 內(nèi)置的加速器可探測運動和震動,使儀器不用時待機,拿起時工作。

. 智能接駁座可對額外電池充電、儀器內(nèi)置電池同時充電并顯示充電進度,接駁座能連接電腦交換數(shù)據(jù),可讓儀器即時標準化,儀器隨時待命狀態(tài)。

. 儀器即使在開機狀態(tài)下也可更換電池而并不需要關(guān)機,在系統(tǒng)運作中拔掉電池,有超過30秒的時間可以插入一個新電池。

. 儀器開機并不需要標準化,可以直接測試,標準化僅僅是可選項。

. 儀器外殼采用鋁合金、塑膠設(shè)計,堅固耐用,手柄軟膠設(shè)計,手感好,更適合長時間使用。

. 儀器具有很好的平衡性,在測試時能立于工作臺上,不需要用手扶持,一鍵式按鈕設(shè)計,即使長時間操作也無疲勞感。

. 工業(yè)級可觸摸的顯示屏與主機一體化密封設(shè)計,可承受野外惡劣的工作環(huán)境。密封的儀器可在雨天、塵土飛揚的礦山環(huán)境中長時間正常工作。

合金分析儀技術(shù)性能

. 真正實現(xiàn)在現(xiàn)場進行無損,快速,準確的檢測,直接顯示元素的百分比含量。

. 只需將合金分析儀直接接觸待測合金表面,無須等待和花費時間即可現(xiàn)場確定合金等級。

. 被檢測的樣品的對象可以是合金塊、合金片、合金線、合金渣、合金粉。

. 不規(guī)則或小型樣品的補償性測試方法能檢測很小或很少的樣品,如直徑為0.04mm的細絲也能立即辨認。

. 可延伸的探頭設(shè)計能對管道內(nèi)部、焊縫,等位置進行檢測。

. 可檢測溫度達450℃的溫材料。

. 可現(xiàn)場在庫中添加,編輯,刪除合號。

. 快的分析速度, 僅需2秒鐘就可識別合金元素。

. 用戶化windows CE 6.0系統(tǒng)驅(qū)動的微電腦顯示系統(tǒng)使所有功能皆可現(xiàn)場完成,用戶化windows CE僅保留有基本的windows與Delta系統(tǒng)有關(guān)的性能,使程序更具靈活性。

. 無需借助電腦,可在現(xiàn)場隨意,查看,放大相關(guān)元素的光譜圖。

. 防塵,防霧,防水:一體機設(shè)計,軟膠與塑膠部件凸槽 & 凹槽 構(gòu)造設(shè)計,使儀器具有很好的三防性能,可承受e劣的工作環(huán)境,大霧,下雨,塵土飛揚工裝場地也能正常工作。

. 更的檢測精度,多次測試的平均值統(tǒng)計功能可有效地提儀器的檢測精度。

. 超大的圖標顯示,菜單式驅(qū)動,微電腦WINDOWS系統(tǒng)使儀器操作更加簡便。

. 電磁干擾被屏蔽,即使在靠近或雙向無線通信裝置處也能正常工作。

合金分析儀元素分析范圍

可分析從從12號元素Mg到94號元素PU之間的所有合金。


合金分析儀器的分析模式與元素種類

分析模式

分析元素

元素分析范圍

分析范圍:從12號元素Mg鎂到94號元素PU范圍內(nèi)的31種基本元素,在以上范圍內(nèi),可以根據(jù)客戶需要更換其他元素。

Alloy Beam1模式

, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, W, Hf, Ta, Re, Pb, Bi, Zr, Nb, Mo, Ag, Sn, Sb等21元素。

Alloy Beam2模式

, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, W, Hf, Ta, Re, Pb, Bi, Zr, Nb, Mo, Ag, Sn, Sb PLUS Mg, Al, Si, P等25元素


直讀光譜儀簡介:

型全譜直讀光譜儀采用標準的設(shè)計和制造工藝技術(shù),應(yīng)用了的CMOS信號采集元件,每塊CMOS都可以單獨設(shè)值火花個數(shù),與光譜儀yi流技術(shù)同步,采用真空光室設(shè)計及全數(shù)字激發(fā)光源。這款CMOS光譜儀,既包含了CCD光譜儀的全譜特性,又具備PMT光譜儀對非金屬元素的極低檢出限,整機設(shè)計合理,操作簡單易學(xué),具有數(shù)據(jù),長期穩(wěn)定性好等優(yōu)點。

應(yīng)用領(lǐng)域

冶金、鑄造、機械、科研、商檢、汽車、石化、造船、電力、航空、核電、金屬和有色冶煉、加工和回收工業(yè)中的各種分析。

可檢測基體

鐵基、銅基、鋁基、鎳基、鈷基、鎂基、鈦基、鋅基、鉛基、錫基、銀基。

主要技術(shù)參數(shù)

v  光學(xué)系統(tǒng):帕型-龍格 羅蘭圓全譜真空型光學(xué)系統(tǒng)

v  波長范圍:140~680nm

v  光柵焦距:401mm

v  探 測 器:性能CMOS陣列/CCD陣列

v  光源類型:數(shù)字光源,能預(yù)燃技術(shù)(HEPS)

v  放電頻率:100-1000Hz

v  放電電流:大500A

v  工作電源:AC220V 50/60Hz 1000W

v  檢測時間:依據(jù)樣品類型而定,一般20S左右

v  電極類型:鎢材噴射電極

v  分析間隙:4mm

v  其他功能:真空,溫度,軟件自動控制;壓力,通訊監(jiān)測

主要特點

v  性能光學(xué)系統(tǒng)

采用精度的CMOS元件可測定非金屬元素如C、P、S、As、B、N以及各種金屬元素含量;測定結(jié)果,重復(fù)性及長期穩(wěn)定性hao。

v  自動光路校準

自動光路校準,光學(xué)系統(tǒng)自動進行譜線掃描,確保接收的正確性,免除繁瑣的波峰掃描工作;

儀器自動識別特定譜線與原存儲線進行對比,確定漂移位置,找出分析線當前的像素位置進行測定。

v  插拔式透鏡設(shè)計

真空光學(xué)系統(tǒng)采用*的入射窗與真空隔離,可在真空系統(tǒng)工作狀態(tài)下進行操作,光學(xué)透鏡采用插拔式透鏡結(jié)構(gòu),日常清洗維護方便快捷。

v  真空防返油技術(shù)

多級隔離的真空防返油技術(shù),采用真空壓差閥門保證真空泵不工作時真空光室與真空*隔離;中間增加了真空濾油裝置,確保真空泵中油不進入真空室,保障CMOS檢測器及光學(xué)元件在可靠環(huán)境中工作。

v  開放式激發(fā)臺

開放式激發(fā)臺機靈活的樣品夾設(shè)計,以滿足客戶現(xiàn)場的各種形狀大小的樣品分析;配合使用小樣品夾具,線材低分析可達到3mm。

v  噴射電極技術(shù)

采用的噴射電極技術(shù),使用鎢材料電極,在激發(fā)狀態(tài)下,電極周圍會形成氬氣噴射氣流,這樣在激發(fā)過程中激發(fā)點周圍不會與外界空氣接觸,提激發(fā)精度;配上du特氬氣氣路設(shè)計,大大降低了氬氣使用量,也降低客戶使用成本。

v  集成氣路模塊

氣路系統(tǒng)采用氣路模塊免維護設(shè)計,替代電磁閥和流量計,電極自吹掃功能,為激發(fā)創(chuàng)造了良好的環(huán)境。

v  數(shù)字化激發(fā)光源

數(shù)字激發(fā)光源,采用為的等離子激發(fā)光源,超穩(wěn)定能量釋放在氬氣環(huán)境中激發(fā)樣品;可任意調(diào)節(jié)光源的各項參數(shù),滿足各種不同材料的激發(fā)要求。

v  速數(shù)據(jù)采集

儀器采用性能CMOS檢測元件,具有每塊CMOS單獨超速數(shù)據(jù)采集分析功能,并能自動實時監(jiān)測控制光室溫度、真空度、氬氣壓力、光源、激發(fā)室等模塊的運行狀態(tài)。

v  以太數(shù)據(jù)傳輸

計算機和光譜儀之間使用以太網(wǎng)卡和TCP/IP協(xié)議,避免電磁干擾,光纖老化的弊端,同時計算機和打印機*外置,方便升級和更換;可以遠程監(jiān)控儀器狀態(tài),多通路操控系統(tǒng)控制和監(jiān)控所有的儀器參數(shù)。

v  預(yù)制工作曲線

備有不同材質(zhì)和牌號的標樣庫,儀器出廠時工廠預(yù)制工作曲線,方便安裝調(diào)試和及時投入生產(chǎn);根據(jù)元素和材質(zhì)對應(yīng)的分析程序而稍有差異,激發(fā)和測試參數(shù)儀器出廠時已經(jīng)調(diào)節(jié)好,根據(jù)分析程序可自動選擇優(yōu)測試條件。

v  分析速度快

分析速度快,僅需20秒即可完成一次分析;針對不同的分析材料,通過設(shè)置預(yù)燃時間及測量時間,使儀器用短時間達到優(yōu)的分析效果。

金屬含量測試儀器

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