EDX檢測儀

X射線熒光光譜分析儀已經(jīng)被廣泛應(yīng)用于地質(zhì)、采礦、金屬、土壤、環(huán)境、考古、木材、電子、醫(yī)藥、環(huán)保、啤酒、電力、石化、玩具、大型工程、鍋爐制造、再生資源金屬、玻璃的回收、刑事證據(jù)鑒定等各種不同領(lǐng)域的日常分析。被原子能機構(gòu)廣泛使用的產(chǎn)品，已多次在伊拉克核查和伊朗核查中發(fā)揮作用。 EDX檢測儀

檢測儀用途及技術(shù)規(guī)格

儀器的技術(shù)指標(biāo)和性能參數(shù)

外形尺寸：245x250x88mm。重量：<1.5Kg。

色彩：青灰色、黑色、銀白色相間。  

探測器：性能Si-Pin探測器。

冷卻系統(tǒng)：采用了Peltier恒溫冷卻系統(tǒng)，控測器在-35℃下工作，保證儀器的檢測精度，和不受外界溫度的影響。

電壓，電流：電壓15~40kv,電流100uA。

RoHS測試軟件RoHS/WEEE。RoHS檢測儀采用IEC標(biāo)準(zhǔn)，可內(nèi)建企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。

無鹵素測試軟件Halogen Free。鹵素檢測軟件采用無鹵指令標(biāo)準(zhǔn)，可內(nèi)建企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。

結(jié)構(gòu)更精密，縮短了射線管、探測器與被測樣品之間的距離，對于某些應(yīng)用信號提了~40%.

超過1/3的機體采用鋁合金外殼設(shè)計，儀器頂部有的槽式散熱裝置，整個體系使散熱非常有效，延長機器壽命, X射線分析儀工作更加更穩(wěn)定，從而故障率極低。

內(nèi)置的氣壓計可以糾正氣壓，氣壓計壓力感應(yīng), 可根據(jù)不同的壓力調(diào)整，從而是檢測值更加準(zhǔn)確，儀器預(yù)設(shè)海平面，用戶上山或者下到一個礦里測試，無需再次校準(zhǔn)，這點對輕元素分析很重要。

儀器開機并不需要標(biāo)準(zhǔn)化，可以直接測試，標(biāo)準(zhǔn)化僅僅是可選項。

儀器外殼采用鋁合金、塑膠設(shè)計，堅固耐用，手柄軟膠設(shè)計，手感好,更適合長時間使用。

真正實現(xiàn)在現(xiàn)場進行無損,快速,準(zhǔn)確的檢測,直接顯示元素的百分比含量。

只需將RoHS檢測儀直接接觸待測樣品表面，無須等待和花費時間即可現(xiàn)場確定樣品種類及其成分含量。

儀器可自動識別樣品種類，也可強制設(shè)定。分為聚合物、混合物、金屬樣品三類。

不規(guī)則或小型樣品的補償性測試方法，能檢測很小或很少的樣品，如直徑為0.04mm的細絲也能立即辨認(rèn)。

用戶化windows CE 6.0系統(tǒng)驅(qū)動的微電腦顯示系統(tǒng)使所有功能皆可現(xiàn)場完成，用戶化windows CE僅保留有基本的windows與Delta系統(tǒng)有關(guān)的性能，使程序更具靈活性。

無需借助電腦，可在現(xiàn)場隨意，查看，放大相關(guān)元素的光譜圖。

元素分析范圍：鈦（）到鈾（U）之間的所有元素。

RoHS/WEEE模式:Cd、Cr、Pb、Hg、Br、Cl、Ca、、V、、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Hf、Ta、W、As、Se、Au、Bi、Sr、Zr、Nb、Mo、Ag、Sn、Sb等30個元素。

Halogen Free模式：Br、P、S、Cl、K、Ca、、、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Hg、As、Pb、Se、Au、Bi、Sr、Zr、Mo、Ag、Cd、Sn、Sb等28個元素。

顯示器：整機一體化設(shè)計，分辨率TFT QVGA卡西歐 BlanView® 觸摸顯示彩屏，帶LED背光。

數(shù)據(jù)顯示：百分比（%）顯示元素含量，元素顯示順序可按能量、濃度值、用戶自定義等方式排序,可統(tǒng)計多次測試的平均值,可接臺式電腦顯示;儀器在測試過程中同步動態(tài)顯示化學(xué)成份。

數(shù)據(jù)輸出：文件可采用TXT,EXCEL格式輸出。

數(shù)據(jù)傳輸：USB電纜、無線藍牙進行數(shù)據(jù)傳輸。

自動診斷與故障報告功能：可通過INTERNET遠程診斷機器故障與軟件升級,可遠程硬件升級。

兼容性：支持打印、藍牙、條碼。

輻射安全防護性能：軟件安全鎖,儀器啟動測試時必須在2秒內(nèi)檢測到被測試物體，否則自動停止測試。

輻射安全：根據(jù)NCPR(美國輻射防護委員會)標(biāo)準(zhǔn)，在美國每年的全身輻射受照量的允許值是50mSv／年，手足等表皮組織的年輻射受照量的允許值是50Rem/年。

輻射低, 美國原廠輻射報告.計量研究所報告。