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環(huán)保ROHS儀器

簡(jiǎn)要描述:環(huán)保ROHS儀器
經(jīng)濟(jì)、準(zhǔn)確、惠而不凡
快速應(yīng)對(duì)RoHS&WEEE&無(wú)鹵化指令,有效控制受限物質(zhì)環(huán)保風(fēng)險(xiǎn)
元素檢測(cè)
RoHS檢測(cè):
用戶可方便對(duì)RoHS控制的六類物質(zhì)進(jìn)行檢測(cè)與控制。
Pb、Cd、Hg、六價(jià)Cr(測(cè)試總Cr)PBB、PBDE (測(cè)試總Br)。
無(wú)鹵檢測(cè):
優(yōu)良的硬件設(shè)計(jì)和完善的

  • 產(chǎn)品型號(hào):
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間:2024-11-04
  • 訪  問(wèn)  量:1699

詳細(xì)介紹

  我公司銷售產(chǎn)品包括X射線熒光光譜儀(含能量色散和波長(zhǎng)色散型)(XRF)、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀(ICP)、電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(ICP-MS) 、原子熒光光譜儀(AFS)、原子吸收分光光度計(jì)(AAS)、光電直讀光譜儀(OES)、氣相色譜儀(GC)、氣相質(zhì)譜儀(GC-MS)、液相色譜儀(LC)、液相質(zhì)譜儀(LC-MS)、能譜儀(EDS)、高頻紅外碳硫分析儀(CS)、礦漿載流在線采樣儀(OSA)等。產(chǎn)品主要應(yīng)用領(lǐng)域有電子電器、五金塑膠、珠寶首飾(貴金屬及鍍層檢測(cè)等)、玩具安全(EN71-3等),F963中規(guī)定的有害物質(zhì):鉛Pb、砷As、銻Sb、鋇Ba、鎘Cd、鉻Cr、Hg、硒Se以及氯等鹵族元素、建材(水泥、玻璃、陶瓷等)、合金(銅合金、鋁合金、鎂合金等)、冶金(鋼鐵、稀土、鉬精礦、其它黑色及有色金屬等)、地質(zhì)采礦(各種礦石品位檢測(cè)設(shè)備)、塑料(無(wú)鹵測(cè)試等)、石油化工、高嶺土、煤炭、食品、空氣、水質(zhì)、土壤、環(huán)境保護(hù)、香精香料、紡織品、醫(yī)藥、商品檢驗(yàn)、質(zhì)量檢驗(yàn)、人體微量元素和化合物檢驗(yàn)等等。銷售的儀器設(shè)備應(yīng)用于元素分析,化合物測(cè)試,電鍍鍍層厚度檢測(cè)等。

環(huán)保ROHS儀器

應(yīng)用領(lǐng)域:

1、鋼鐵行業(yè):對(duì)生鐵、各類鑄鐵、各類合金鋼及爐渣、礦石、燒結(jié)礦、球團(tuán)礦、鐵精粉、

鐵礦石除碳(C)以外的各種元素成份分析。

2、 耐火材料及水泥行業(yè)的分析:各類耐火材料及水泥生料樣品的成份分析。

3、有色行業(yè):對(duì)鋁合金、不銹鋼、銅合金樣品及鉛鋅礦、銅礦、銀礦、鉬礦等各種成份

分析。

4、質(zhì)檢部門: ROSH 指令中的Pb,Cd ,Cr,Hg,Br 及氯素各種等成份分析。

5、 鍍層測(cè)厚:可對(duì)金屬材料及非金屬材料上的所有電鍍層的厚度進(jìn)行準(zhǔn)確無(wú)損測(cè)量。

儀器特點(diǎn)

1、采用DPP 數(shù)字脈沖成型技術(shù),計(jì)數(shù)率,無(wú)漏計(jì),穩(wěn)定性好;

2、采用X光管激發(fā)樣品,一次激發(fā)全部待測(cè)元素,韌致輻射型,Be(鈹)窗厚50μm,靶材Ag(銀靶),功耗低、壽命長(zhǎng),對(duì)輕重元素均有較的激發(fā)效率;

3、 采用世界上的電致冷SDD 半導(dǎo)體探測(cè)器,分辨率,達(dá)到130ev,無(wú)需液氮制冷,使用方便,可以一次性完成對(duì)多種元素的探測(cè);

4、壓電源:電壓0V-50kV 連續(xù)可調(diào);電流0-2mA 連續(xù)可調(diào),精度,*操作;

5、 真空環(huán)境測(cè)量,提了輕元素的激發(fā)效率和測(cè)量范圍;

6、2048 道多道譜儀實(shí)時(shí)測(cè)量顯示,對(duì)樣品X 光譜進(jìn)行精細(xì)分析,系統(tǒng)可自動(dòng)識(shí)別譜線,方便了解樣品的組成;

7、 自動(dòng)尋峰,消除譜峰漂移影響,確保儀器長(zhǎng)期穩(wěn)定;

8、全中文Windows 應(yīng)用軟件,操作簡(jiǎn)單。專業(yè)的分析軟件,可以實(shí)現(xiàn)模式識(shí)別,自動(dòng)分類,開(kāi)放式軟件系統(tǒng),用戶可以根據(jù)自身需要建立庫(kù)文件;

9、融合了一系列的光譜處理方法,包括FFT(快速傅立葉變換濾波)、的背景扣除方法、自動(dòng)尋峰和Quasi-Newton(準(zhǔn)牛頓)優(yōu)化算法等;

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)

、快速、無(wú)損、直觀、環(huán)保;

:測(cè)試結(jié)果可以接近濕化學(xué)方法測(cè)試;

快速:分析樣品中的幾十個(gè)元素只需幾分鐘;

無(wú)損:不會(huì)破壞被分析樣品的物理和化學(xué)特性;

直觀:分析結(jié)果以圖表方式直接呈現(xiàn);

環(huán)保:不會(huì)對(duì)環(huán)境產(chǎn)生污染破壞;

四、主要技術(shù)指標(biāo)

1、分析元素:Na-U,主要是Al、Si、P、S、K、Ca、、V、Fe、Ni、Mn、Pb、Zn、Cu、Sn、Sb、Ast等。

2、分析范圍:1ppm-99.99%。

4、同時(shí)分析:30種元素同時(shí)分析.

5、能量范圍:1-50keV.

6、測(cè)量時(shí)間:1-2 分鐘可以完成全部待測(cè)元素的含量分析.

7、進(jìn)口電制冷半導(dǎo)體探測(cè)器的分辨率:130ev.

8、 管電壓:0-50Kv 管電流: 1~2000 μA.

9、儀器的分析精度:標(biāo)準(zhǔn)偏差≤0.08%.

10、分析誤差:優(yōu)于標(biāo)準(zhǔn)要求.

11、輻射劑量:<25μsv/h.

12、環(huán)境溫度要求:15℃-35℃

14、工作電源:交流220±10%、50、60Hz

主要配置

1、探測(cè)系統(tǒng)

1、探測(cè)器

類型:電制冷SDD探測(cè)器

Be窗厚度:50um

佳分辨率:130eV

能量響應(yīng)范圍:1keV-50keV

2、X光管(用于X射線能譜儀)

電壓:0~50kV

電流:1.0mA

功率:50W

燈絲電壓:2.0V

燈絲電流:1.7A

射線取出角:12°

靶材:Mo

Be窗厚度:0.5mm

3、壓電源

電壓范圍:0-50kV連續(xù)可調(diào),采用數(shù)字顯示

輸入電壓:DC+24V±10%

輸入電流:4.0A()

輸出電壓:0-5KV & 1mA

功率:50W

電壓調(diào)整率:0.01%(從空載到滿載)

電流調(diào)整率:0.01%(從空載到滿載)

紋波系數(shù):0.1%(P-P值)

8小時(shí)穩(wěn)定性:0.05%

4、真空泵

真空度:真空測(cè)試20Pa極限真空2Pa

5、全光路集成設(shè)計(jì)/射線防護(hù)系統(tǒng)/真空腔體

X 光管、探測(cè)器、復(fù)合濾光處理系統(tǒng)、CCD、定位系統(tǒng)、全自動(dòng)準(zhǔn)直器切換系統(tǒng)等光路處理器件均集成在密閉的結(jié)構(gòu)中,確保光路系統(tǒng)的穩(wěn)定性與密閉性作為

真空光路系統(tǒng)的腔體,通過(guò)環(huán)路和迷宮方式有效的利用X 射線的能量,同時(shí)保證了射線的零溢出。

6、全自動(dòng)復(fù)合濾光切換系統(tǒng)

合理的8種復(fù)合濾光片的組合和自動(dòng)切換系統(tǒng),以及二次濾光片的升級(jí)空間,既可以降低來(lái)自原級(jí)X射線干擾的影響,提被測(cè)元素的靈敏度和測(cè)試精度。

7、多口徑準(zhǔn)直器自動(dòng)切換系統(tǒng)

φ1mm,φ3mm,φ5mm,φ18mm四種口徑準(zhǔn)直器可自動(dòng)切換;

保證了各類樣品的測(cè)試便利。

8、攝像系統(tǒng)

500萬(wàn)像素分辨率CCD;

32位真彩色,生動(dòng)顯示射線照射位置;

配合小口徑準(zhǔn)直器可實(shí)現(xiàn)的定點(diǎn)測(cè)量;

特別配置的背景燈,保證了測(cè)試物質(zhì)的圖像清晰。

9、照射區(qū)控制系統(tǒng)

可調(diào)整的X光照射區(qū)域控制系統(tǒng),可以清晰的知道測(cè)試樣品的部位,配合用鼠標(biāo)對(duì)樣品位置的移動(dòng),準(zhǔn)確的判斷測(cè)試樣品的全部信息。

     開(kāi)放性工作曲線

用戶可很方便的根據(jù)自身材質(zhì)狀況,建立風(fēng)險(xiǎn)材料的工作曲線,全面提工作曲線與被測(cè)材料的對(duì)應(yīng)性。從而大幅度提升風(fēng)險(xiǎn)物質(zhì)的檢測(cè)精度。

分析時(shí)間

可根據(jù)樣品種類設(shè)置不同的檢測(cè)時(shí)間,并可根據(jù)樣品大小自動(dòng)調(diào)節(jié)檢測(cè)時(shí)間以保證所需檢測(cè)精度。

XRF應(yīng)用-無(wú)鹵測(cè)試

對(duì)于氯(Cl)元素的測(cè)量,光路優(yōu)化前后存在的差別,主要原因如下:

① 由于氯(Cl)元素?zé)晒夤庾幽芰枯^低(2.6KeV),空氣會(huì)對(duì)熒光光子產(chǎn)生較為嚴(yán)重的吸收效應(yīng),從而降低熒光強(qiáng)度,大幅度降低測(cè)量精度。

② 空氣中惰性氣體元素氬(Ar)對(duì)氯(Cl)元素產(chǎn)生的干擾,也會(huì)對(duì)測(cè)量精度產(chǎn)生較為顯著的負(fù)面影響。

光路優(yōu)化之后明顯看出空氣中惰性氣體元素氬(Ar)對(duì)氯(Cl)元素產(chǎn)生的干擾減少。

環(huán)保ROHS儀器

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