測(cè)厚儀(thicknessgauge)是用于測(cè)量原材料及物件厚度的儀表盤(pán)。在工業(yè)化生產(chǎn)中常會(huì)用于持續(xù)或取樣測(cè)量商品的厚度(如厚鋼板、帶鋼、塑料薄膜、打印紙張、金屬材料箔片等原材料)。測(cè)厚儀能夠用于在線測(cè)量冷軋后的板非晶帶材厚度，并以通訊器材號(hào)的方式輸出。現(xiàn)階段普遍的測(cè)厚儀有γ放射線、β射線、x放射線及放射性核素放射線等四種，其放置部位均在板帶擠壓機(jī)的出入口或入口側(cè)。設(shè)計(jì)方案、安裝測(cè)厚儀時(shí)要在很有可能的標(biāo)準(zhǔn)下盡可能挨近工作中輥，目的是減少板厚的落后調(diào)整時(shí)間。
 

　　測(cè)厚儀的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)關(guān)鍵有：帶磁測(cè)厚法，放射性測(cè)厚法，電解法測(cè)厚法，渦旋測(cè)厚法，超聲波測(cè)厚法。
 

　　測(cè)量常見(jiàn)問(wèn)題：
 

　?、痹陂_(kāi)展檢測(cè)的情況下要留意規(guī)范片團(tuán)體的金屬材料帶磁和表面表面粗糙度理應(yīng)與試樣類(lèi)似。
 

　?、矞y(cè)量時(shí)側(cè)頭與試件表面維持豎直。
 

　　⒊測(cè)量時(shí)要留意基材金屬材料的臨界值厚度，假如超過(guò)這一厚度測(cè)量也不受基材金屬材料厚度的危害。
 

　?、礈y(cè)量時(shí)要留意試樣的折射率對(duì)測(cè)量的危害。因而在彎折的試樣表面上測(cè)量是不靠譜的。
 

　?、禍y(cè)量前應(yīng)留意周邊別的的電氣設(shè)備是否會(huì)造成電磁場(chǎng)，假如會(huì)可能影響帶磁測(cè)厚法。
 

　?、稖y(cè)量時(shí)要留意不必以?xún)?nèi)拐角處和挨近試樣邊沿處測(cè)量，由于一般的測(cè)厚儀試樣表面樣子的突然轉(zhuǎn)變很比較敏感。
 

　?、吩跍y(cè)量時(shí)要維持工作壓力的穩(wěn)定，不然會(huì)危害測(cè)量的讀值。
 

　?、冈陂_(kāi)展檢測(cè)的情況下要留意儀器設(shè)備測(cè)頭和被檢測(cè)件的要直接接觸，因而超聲波測(cè)厚儀在開(kāi)展對(duì)側(cè)頭粘附化學(xué)物質(zhì)。
 

　　測(cè)厚儀的歸類(lèi)運(yùn)用：
 

　　1、激光器測(cè)厚儀是運(yùn)用激光器的反射面基本原理，依據(jù)光切法測(cè)量和觀察機(jī)械設(shè)備制造中零件加工表面的外部經(jīng)濟(jì)幾何圖形樣子來(lái)測(cè)量商品的厚度，是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)性測(cè)量?jī)x器設(shè)備。它可立即輸出模擬信號(hào)與工業(yè)生產(chǎn)電子計(jì)算機(jī)相互連接，并快速解決數(shù)據(jù)信息并輸出誤差值到各種各樣機(jī)械設(shè)備。
 

　　2、X射線測(cè)厚儀運(yùn)用X射線透過(guò)被測(cè)原材料時(shí)，X射線的抗壓強(qiáng)度的轉(zhuǎn)變與原材料的厚度有關(guān)的特點(diǎn)，滄州市歐譜進(jìn)而測(cè)量原材料的厚度，是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)性計(jì)量?jī)x器。它以PLC和工業(yè)生產(chǎn)電子計(jì)算機(jī)為關(guān)鍵，收集測(cè)算數(shù)據(jù)信息并輸出總體目標(biāo)誤差值給擠壓機(jī)厚度自動(dòng)控制系統(tǒng)，做到規(guī)定的冷軋厚度。關(guān)鍵運(yùn)用領(lǐng)域：稀有金屬的板帶箔生產(chǎn)加工、行業(yè)的板帶生產(chǎn)加工。
 

　　3、打印紙張測(cè)厚儀：適用4mm下列的各種各樣塑料薄膜、打印紙張、硬紙板及其別的片狀材料厚度的測(cè)量。
 

　　4、塑料薄膜測(cè)厚儀：用以測(cè)量塑料薄膜、片狀等原材料的厚度，測(cè)量范疇寬、測(cè)量高精度，具備數(shù)據(jù)信息輸出、隨意部位置零、公螺紋公稱(chēng)直徑變換、全自動(dòng)關(guān)閉電源等特性。
 

　　5、鍍層測(cè)厚儀：用以測(cè)量鐵及非鐵金屬材料基材上鍍層的厚度.
 

　　6、超聲波測(cè)厚儀：超聲波測(cè)厚儀是依據(jù)超聲波單脈沖反射面基本原理來(lái)開(kāi)展厚度測(cè)量的，當(dāng)攝像頭發(fā)送的超聲波單脈沖根據(jù)被測(cè)物件抵達(dá)原材料分頁(yè)面時(shí)，單脈沖被反射面回?cái)z像頭，根據(jù)測(cè)量超聲波在原材料中散播的時(shí)間來(lái)明確被測(cè)原材料的厚度。凡能使超聲波以穩(wěn)定速率在其內(nèi)部散播的各種各樣原材料均可選用此基本原理測(cè)量。